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Radius radius measurement using spectrally controlled interferometry

机译:使用光谱控制干涉仪测量半径半径

摘要

The ROC value of a test surface (14) is measured with a single spectrally controlled interferometric measurement using a reference source (18) with known ROC. The test surface is placed at the confocal position (24) of the reference surface and the light source (16) is modulated to create localized lines of interference (30-34, 36-40, 42-46) at the location of the test surface. The interference lines are then processed with conventional interferometric analysis tools to determine the exact position of the test surface with respect to the reference surface, thereby determining the distance between the test surface and the reference surface. The radius of curvature of the test surface is obtained simply by subtracting such a distance from the known radius of curvature of the reference surface.
机译:使用具有已知ROC的参考源(18),通过单光谱控制的干涉测量法来测量测试表面(14)的ROC值。将测试表面放置在参考表面的共焦位置(24)上,并调制光源(16)以在测试位置创建局部干涉线(30-34、36-40、42-46)表面。然后,使用常规的干涉分析工具对干涉线进行处理,以确定测试表面相对于参考表面的确切位置,从而确定测试表面与参考表面之间的距离。简单地通过从参考表面的已知曲率半径中减去该距离即可获得测试表面的曲率半径。

著录项

  • 公开/公告号DE112018002147T5

    专利类型

  • 公开/公告日2020-01-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 APRE INSTRUMENTS LLC;ARTUR OLSZAK;

    申请/专利号DE20181102147T

  • 发明设计人 ARTUR OLSZAK;

    申请日2018-04-23

  • 分类号G01B11/24;G01B9/02;G01B9/023;G01B11/30;G01B21/20;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 11:01:33

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