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ON-CHIP CALIBRATION CIRCUIT AND METHOD WITH A HALF-STEP RESOLUTION

机译:半步分辨率的芯片上校准电路和方法

摘要

A calibration circuit and calibration method are disclosed. The circuit includes: a DAC that outputs an analog parameter and has an output parameter setting circuit; a comparator that receives a reference parameter and the analog parameter; and a control circuit (with selection logic) connected to the comparator and the DAC in a feedback loop. In a calibration mode, the size of the analog parameter is adjusted by half a DAC step in one direction and the feedback loop is used to perform a binary search calibration process. In an operating mode, the size of the analog parameter is set by half a DAC step in the opposite direction. The selection logic selects the DAC step identified by the calibration process or the next higher DAC step as the last DAC step. The control circuit outputs a final DAC code that corresponds to the final DAC step, and the DAC generates a calibrated parameter based thereon.
机译:公开了一种校准电路和校准方法。该电路包括:DAC,其输出模拟参数并具有输出参数设置电路;以及比较器,其接收参考参数和模拟参数;控制电路(具有选择逻辑)在反馈环路中连接到比较器和DAC。在校准模式下,模拟参数的大小在一个方向上通过DAC步长的一半进行调整,并且反馈环用于执行二进制搜索校准过程。在工作模式下,模拟参数的大小由反方向上DAC步长的一半设置。选择逻辑选择由校准过程标识的DAC步骤或下一个较高的DAC步骤作为最后的DAC步骤。控制电路输出与最终DAC步骤相对应的最终DAC代码,并且DAC基于此代码生成校准参数。

著录项

  • 公开/公告号DE102019213253A1

    专利类型

  • 公开/公告日2020-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 GLOBALFOUNDRIES INC.;

    申请/专利号DE201910213253

  • 发明设计人 ERIC HUNT-SCHROEDER;JOHN A. FIFIELD;

    申请日2019-09-03

  • 分类号H03M1/10;H03M1/66;H03M1/78;

  • 国家 DE

  • 入库时间 2022-08-21 11:01:09

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