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ELIMINATION DE DEBRIS DANS UNE FOSSE D'UN MASQUE PHOTOLITHOGRAPHIQUE

摘要

A method for removing debris from a trench formed on a photolithographic mask, comprising:positioning a tip within the trench, the tip including a surface and a nanometer-scaled coating disposed thereon, the nanometer-scaled coating having a surface energy lower than a surface energy of the photolithographic mask;moving the tip within the trench to physically adhere debris to the tip;moving the tip with the debris away from the trench; and removing the debris from the tip.

著录项

  • 公开/公告号EP3147937B1

    专利类型

  • 公开/公告日2020.07.15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人

    申请/专利号EP16178942.5

  • 发明设计人

    申请日2008.09.16

  • 分类号

  • 国家 EP

  • 入库时间 2022-08-21 10:53:25

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