首页> 中国专利> 差压双离子阱质量分析仪及其使用方法

差压双离子阱质量分析仪及其使用方法

摘要

一种双离子阱质量分析仪包括相邻放置且分别保持较高和较低压力的第一和第二二维离子阱。可以在第一阱中执行倾向高压的功能(冷却和碎裂),在第二阱中执行倾向低压的功能(分离和分析扫描)。可以在第一和第二阱之间通过具有小孔的平板透镜传输离子,其中该小孔提供了泵的限制,并允许在两个阱中保持不同的压力。该双离子阱质量分析仪的差压环境有助于在不牺牲离子捕获和碎裂效率的情况下,使用高分辨率的分析扫描模式。

著录项

  • 公开/公告号CN101641761B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-08-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 塞莫费尼根股份有限公司;

    申请/专利号CN200780046398.0

  • 申请日2007-12-12

  • 分类号H01J49/00(20060101);H01J49/42(20060101);

  • 代理机构11262 北京安信方达知识产权代理有限公司;

  • 代理人韩龙;阎娬斌

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-08-29

    授权

    授权

  • 2010-03-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2010-02-03

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号