首页> 中国专利> 在建立磁共振断层成像的温度图时进行B0场漂移校正

在建立磁共振断层成像的温度图时进行B0场漂移校正

摘要

本发明给出了一种能够简单实施以及防止误差的用于在借助于磁共振断层成像拍摄温度图时校正B0场漂移的方法,以及一种用于实施该方法的装置(20)。根据该方法,将磁共振模体(23)置于一个相对于接收线圈(8,30)保存并标出的参考位置(r)上。在未加热的状态中拍摄检查对象的第一相位图像(P1)时,自动地拍摄所述模体(23)的第一参考相位图像(RP1)。在拍摄该检查对象(4)的随后第二相位图像(P2)时,自动地拍摄该模体(23)的第二参考相位图像(RP2)。按照对对应的参考相位图像(RP1,RP2)进行均衡,将所述相位图像(P1,P2)相互地匹配。

著录项

  • 公开/公告号CN101406396B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-08-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子公司;

    申请/专利号CN200810166135.X

  • 发明设计人 乔格·罗兰;

    申请日2008-10-08

  • 分类号A61B5/055(20060101);A61B5/01(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人谢强

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-25

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):A61B 5/055 授权公告日:20120822 终止日期:20171008 申请日:20081008

    专利权的终止

  • 2012-08-22

    授权

    授权

  • 2012-08-22

    授权

    授权

  • 2010-09-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B5/055 申请日:20081008

    实质审查的生效

  • 2010-09-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B 5/055 申请日:20081008

    实质审查的生效

  • 2009-04-15

    公开

    公开

  • 2009-04-15

    公开

    公开

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