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用于使用锶测量勘探地质地层的方法和设备

摘要

本发明公开一种用于使用锶测量勘探地质地层的方法和设备。使用井下测井仪测量地层中的锶浓度。测井曲线可以被提供为深度或距离的函数。锶测量可以与地层年代做相关,以提供深度与绝对时间的相关性。在井眼中进行的锶的测量可以与通过被井眼穿过的地层的地震勘探获得信息做相关。可以使单个地层的多个井眼内的锶的测量做相关。

著录项

  • 公开/公告号CN101680965B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-08-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 普拉德研究及开发股份有限公司;

    申请/专利号CN200880009330.X

  • 发明设计人 迈克尔·赫伦;

    申请日2008-12-31

  • 分类号G01V5/10(20060101);G01V5/12(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人王新华

  • 地址 英属维尔京群岛多多拉岛

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-08-22

    授权

    授权

  • 2010-05-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01V 5/10 申请日:20081231

    实质审查的生效

  • 2010-03-24

    公开

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