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用于通过结合探测和无接触整体测量而测量镜片的光焦度的方法和设备

摘要

一种包括如下步骤的方法:无接触地光学测量在围绕镜片的测量点而限定的局部区域中所述镜片的至少一个折射光学特性的局部值的步骤;至少一个探测所述镜片的步骤,在此期间,确定在所述镜片的表面之一上的所述测量点的轴向位置;以及,将通过探测而获得的所述测量点的轴向位置与从所述无接触光学测量确定的在所述测量点的镜片的光学特性的局部值相比较,以便推导出在所述测量点的所述镜片的至少一个顶焦度。

著录项

  • 公开/公告号CN101069081B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 埃西勒国际通用光学公司;

    申请/专利号CN200580041544.1

  • 发明设计人 F·迪沃;

    申请日2005-11-24

  • 分类号G01M11/02(20060101);

  • 代理机构11247 北京市中咨律师事务所;

  • 代理人杨晓光;李峥

  • 地址 法国沙朗通

  • 入库时间 2022-08-23 09:10:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-13

    专利权的转移 IPC(主分类):G01M 11/02 登记生效日:20180223 变更前: 变更后: 申请日:20051124

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-07-04

    授权

    授权

  • 2012-07-04

    授权

    授权

  • 2008-01-02

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-02

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-11-07

    公开

    公开

  • 2007-11-07

    公开

    公开

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