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测量保偏光纤和双折射介质的分布式偏振串扰方法及装置

摘要

本发明涉及测量保偏光纤和双折射介质的分布式偏振串扰方法及装置,属于光学测量技术领域;该方法包括耦合一个具有宽光谱的线性偏振光进入光学双折射介质,产生两个正交偏振模传输的信号;使两个正交偏振模之间产生延迟,从而输出一个调制光输出信号;再使得两正交偏振模相互混合;并使两正交偏振模之间的干涉;处理获得的干涉信号来识别光学双折射介质两正交偏振模之间偏振耦合的位置。该装置包括线性光源、光学延迟器、线性光学起偏器、光学干涉仪和处理器。采用此方法和装置可以抑制重影干涉峰数目和幅度,并可获得高测量灵敏度、宽动态范围和高空间测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN101871788B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京高光科技有限公司;

    申请/专利号CN201010191225.1

  • 发明设计人 姚晓天;

    申请日2010-06-04

  • 分类号G01D5/26(20060101);

  • 代理机构北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人廖元秋

  • 地址 北京市海淀区长春桥路11号亿城大厦C1座303

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-21

    专利权的转移 IPC(主分类):G01D 5/26 登记生效日:20190506 变更前: 变更后: 申请日:20100604

    专利申请权、专利权的转移

  • 2012-05-23

    授权

    授权

  • 2012-05-23

    授权

    授权

  • 2010-12-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D5/26 申请日:20100604

    实质审查的生效

  • 2010-12-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01D 5/26 申请日:20100604

    实质审查的生效

  • 2010-10-27

    公开

    公开

  • 2010-10-27

    公开

    公开

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