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实现XANES分析的方法和设备

摘要

用于将样品曝露到高能辐射的紧凑、低功耗系统和方法,例如将样品曝露到用于实现X射线吸收近边缘分析(XANES)的X射线。该系统和方法包括一个低功耗的辐射源,例如一个X射线管;一个或多个用于对指向被分析样品的辐射能量加以导向和改变的可调节晶体光学部件;以及一个用于探测由该样品发射的辐射的辐射探测器件,例如一个X射线探测器。这一个或多个可调节晶体光学部件可以是双重弯曲晶体光学部件。该系统的部件可以被排列在同一条直线上。所公开的系统和方法特别适用于XANES分析,例如生物过程中铬或其他过渡金属的化学状态的分析。

著录项

  • 公开/公告号CN1829910B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 X射线光学系统公司;

    申请/专利号CN200480021932.9

  • 发明设计人 陈泽武;沃尔特·吉布森;

    申请日2004-06-02

  • 分类号

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人刘炳胜

  • 地址 美国纽约

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-19

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 23/00 授权公告日:20120523 终止日期:20170602 申请日:20040602

    专利权的终止

  • 2012-05-23

    授权

    授权

  • 2012-05-23

    授权

    授权

  • 2006-10-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-10-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-09-06

    公开

    公开

  • 2006-09-06

    公开

    公开

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