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具有电阻性尖端的半导体探针及其制造方法

摘要

本发明提供了一种具有电阻性尖端的半导体探针和制造该半导体探针的方法。掺杂有第一杂质的电阻性尖端包括:电阻性区域,形成在电阻性尖端的顶部,轻掺杂有第二杂质,第二杂质与第一杂质的极性相反;第一半导体电极区域和第二半导体电极区域,形成在电阻性尖端的斜侧面上,重掺杂有第二杂质。半导体探针包括:电阻性尖端;悬臂,电阻性尖端位于悬臂的端部上;介电层,位于悬臂上并覆盖电阻性区域;金属屏蔽,位于介电层上并具有形成在与电阻性区域对应的位置处的开口。因此,提高了半导体探针的空间分辨率。

著录项

  • 公开/公告号CN1811944B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-04-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200510134516.6

  • 发明设计人 丁柱焕;申炯澈;高亨守;洪承范;

    申请日2005-12-08

  • 分类号

  • 代理机构北京铭硕知识产权代理有限公司;

  • 代理人郭鸿禧

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-26

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11B 9/14 授权公告日:20120404 终止日期:20161208 申请日:20051208

    专利权的终止

  • 2012-04-04

    授权

    授权

  • 2012-04-04

    授权

    授权

  • 2006-09-27

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-09-27

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-08-02

    公开

    公开

  • 2006-08-02

    公开

    公开

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