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一种测量聚四氟乙烯粉体平均粒径及其粒径分布的方法

摘要

本发明提供了一种测量聚四氟乙烯粉体平均粒径(D50,又称中位径)及其粒径分布的方法,其包括以洗洁精/异丙醇为浸润体系,以水为分散介质,用激光粒度仪测量分散体系中聚四氟乙烯粉体的平均粒径及其粒径分布,适于2μm-300μm的聚四氟乙烯粉体平均粒径的测量;以及,以压缩气体为分散介质,将分散压力控制在0.4~1.0bar,用激光粒度仪测量分散体系中聚四氟乙烯粉体的平均粒径及其粒径分布,适于200μm-1000μm的聚四氟乙烯粉体平均粒径的测量。本发明的方法能够方便、快速、稳定地测量聚四氟乙烯粉体的平均粒径及其粒径分布,适于2μm-1000μm聚四氟乙烯粉体平均粒径的测量。

著录项

  • 公开/公告号CN101769847B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-03-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中昊晨光化工研究院;

    申请/专利号CN201010002837.1

  • 发明设计人 刘斌;蔡醇洋;郭立伟;

    申请日2010-01-20

  • 分类号

  • 代理机构北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人王朋飞

  • 地址 643201 四川省自贡市富顺县晨光路135号

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-02-25

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01N 15/02 变更前: 变更后: 申请日:20100120

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2012-03-21

    授权

    授权

  • 2010-09-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 15/02 申请日:20100120

    实质审查的生效

  • 2010-07-07

    公开

    公开

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