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能量分散型辐射探测系统和测量目标元素的含量的方法

摘要

为了提供能量分散型辐射探测系统和测量目标元素的含量的方法,所述方法能够通过抑制堆积的影响确定构成探测的最佳最小极限的入射辐射的强度来执行测量,该能量分散型辐射探测系统包括用于以预定强度将入射辐射照射到样品的入射系统,和用于通过照射入射辐射探测从该样品发射的辐射以便基于被探测的辐射的光谱确定该样品的目标元素的含量的探测系统,并且该能量分散型辐射探测系统包括能够通过基于被探测的辐射的光谱确定最小化目标元素的探测的最小极限的入射辐射的最佳强度来以该最佳强度照射入射辐射的控制部分。

著录项

  • 公开/公告号CN101101269B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-02-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 精工电子纳米科技有限公司;

    申请/专利号CN200710126208.8

  • 发明设计人 的场吉毅;长谷川清;深井隆行;

    申请日2007-06-22

  • 分类号G01N23/22(20060101);H01J37/252(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人张雪梅;刘宗杰

  • 地址 日本千叶县千叶市

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-08-06

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01N 23/22 变更前: 变更后: 申请日:20070622

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2012-02-29

    授权

    授权

  • 2009-06-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-09

    公开

    公开

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