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光电测量仪器响应时间的测量方法

摘要

本发明公开了一种光电测量仪器响应时间的测量方法,首先对光源进行调制获得脉冲光供测量使用,根据测量仪器特性的差异,选择调制脉冲宽度。测量仪器设置成响应时间测量模式,开始测量。当被测光强达到触发水平,测量仪器输出单个电平脉冲与光电二极管输出脉冲输出至示波器,示波器测量两路脉冲的时间差,此时间差可作为光电测量仪器的响应时间。本发明通过光电测量仪器的输出电平脉冲与光电二极管输出参考脉冲相比较,获得仪器测量响应时间,具有方便、快速、精确度高。

著录项

  • 公开/公告号CN102053009B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200910213360.9

  • 发明设计人 朱文星;孙守军;

    申请日2009-11-03

  • 分类号G01M11/02(20060101);G01D5/34(20060101);G01J1/10(20060101);G01J11/00(20060101);

  • 代理机构32203 南京理工大学专利中心;

  • 代理人唐代盛

  • 地址 233006 安徽省蚌埠市华光大道726号

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-10-26

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M 11/02 授权公告日:20120111 终止日期:20171103 申请日:20091103

    专利权的终止

  • 2012-01-11

    授权

    授权

  • 2012-01-11

    授权

    授权

  • 2011-06-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20091103

    实质审查的生效

  • 2011-06-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20091103

    实质审查的生效

  • 2011-05-11

    公开

    公开

  • 2011-05-11

    公开

    公开

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