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发光元件的元件层结构设计的评价方法及评价装置以及发光元件

摘要

本发明提供一种发光元件的元件层结构设计的评价方法及评价装置,以比目前方法短的计算时间进行来自包括层叠有含有发光层的4层以上的薄膜的结构的发光元件的射出光的评价。本发明的发光元件的元件层结构设计的评价方法,其通过信息处理装置对来自包括层叠有含有发光层的4层以上的薄膜的结构的发光元件的射出光进行评价,其中,包括:输入步骤(S01),输入表示构成发光元件的薄膜的参数、及来自发光层的发出光的光谱的信息;光谱计算步骤(S03),基于所输入的参数,生成表示仅在薄膜的层叠方向分割为网格的发光元件的信息,应用该生成的信息、及表示来自发光层的发出光的光谱的信息,利用FDTD法计算射出光的光谱;光谱信息输出步骤(S03),输出表示所计算的来自射出光的光谱的信息。

著录项

  • 公开/公告号CN101755484B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-12-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 住友化学株式会社;

    申请/专利号CN200880100046.3

  • 发明设计人 坂野文洋;

    申请日2008-06-26

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人朱丹

  • 地址 日本国东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 51/50 授权公告日:20111214 终止日期:20140626 申请日:20080626

    专利权的终止

  • 2011-12-14

    授权

    授权

  • 2010-08-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):H05B 33/10 申请日:20080626

    实质审查的生效

  • 2010-06-23

    公开

    公开

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