公开/公告号CN102064456B
专利类型发明专利
公开/公告日2011-12-28
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;
申请/专利号CN201010574260.1
申请日2010-11-30
分类号
代理机构中科专利商标代理有限责任公司;
代理人汤保平
地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号
入库时间 2022-08-23 09:08:32
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-12-28
授权
授权
2011-07-20
实质审查的生效 IPC(主分类):H01S 3/067 申请日:20101130
实质审查的生效
2011-05-18
公开
公开
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 用于光纤陀螺和光纤陀螺使用的光源装置
机译: 干涉式光纤陀螺仪的超发光光源