首页> 中国专利> 一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法

一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法

摘要

本发明的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法,属于航空航天技术领域。本发明采用石英晶片原位监测航天器光学敏感表面污染量,将其置于真空室内,在石英晶体微量天平可视范围内,放置非金属材料,使其在真空条件下出气;调整分光光度计及真空系统,然后加热非金属材料,使污染物逸出;在线原位监测石英晶体微量天平的频率和温度并保存,最后关闭系统。本发明的一种航天器光学表面的非金属材料出气污染的原位监测方法的灵敏度高,达到1.10×10

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-12-07

    授权

    授权

  • 2010-12-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 5/00 申请日:20091217

    实质审查的生效

  • 2010-11-03

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号