首页> 中国专利> 用于获得增强的荧光检测能力的光学基片

用于获得增强的荧光检测能力的光学基片

页面导航

摘要

一种样品基片，适于使用具有第一波长的荧光激励光。在基底上设置反射器。所述反射器包括具有至少两层的反射多层干涉涂层。并非所有层L都满足四分之一波条件：d

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2011-08-10

授权

授权
2009-02-18

专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移) 变更前: 变更后: 登记生效日:20090116 申请日:20040603

专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)
2006-08-30

实质审查的生效

实质审查的生效
2006-07-05

公开

公开

1. 用于获得增强的荧光检测能力的光学基片 [P] . 中国专利： CN1798968B . 2011.08.10
2. 一种用于发光薄膜荧光增强的光学玻璃基片及其制备方法 [P] . 中国专利： CN102126834B . 2014.04.16
3. OPTICAL SUBSTRATE FOR ENHANCED DETECTABILITY OF FLUORESCENCE [P] . 美国专利： US2007188746A1 . 2007-08-16

机译：增强荧光检测能力的光学基质
4. OPTICAL SUBSTRATE FOR ENHANCED DETECTABILITY OF FLUORESCENCE [P] . 欧洲知识产权局专利： EP1629266A1 . 2006-03-01

机译：增强荧光检测能力的光学基质
5. OPTICAL SUBSTRATE FOR ENHANCED DETECTABILITY OF FLUORESCENCE [P] . 世界知识产权组织专利： WO2004106902A1 . 2004-12-09

机译：增强荧光检测能力的光学基质