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紧凑的三波横切型消色差光学干涉仪

摘要

一种分析光束波阵面的方法与系统,其中衍射光栅(GR)安置在垂直于待分析光束且光学共轭于分析平面的平面内。光栅不同的呈现光束相干涉而生成图像,该图像具有与等待分析波阵面的梯度相关的变形。本方法的特征在于,光栅(GR)执行强度函数与相位函数的相乘;强度函数由带六边形表面S网格的二维光栅(GI)实现,六边形表面S网格将待分析束的光透射成多条排列在六边形网格中的呈现光束;相位函数由带六边形表面3S网格的二维实现,六边形表面3S网格在两条相邻次级光束之间引起接近2π/3(模2π)的相移。

著录项

  • 公开/公告号CN101389938B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-03-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 法国宇航院(ONERA);

    申请/专利号CN200780006664.7

  • 发明设计人 J·普里莫特;N·盖里诺;S·韦尔盖;

    申请日2007-01-16

  • 分类号

  • 代理机构上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人刘佳

  • 地址 法国沙蒂永

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-03-09

    授权

    授权

  • 2009-05-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-03-18

    公开

    公开

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