其中α=2πr/λ,r即为颗粒的光纤点对应半径。"/> 多通道散射反演微颗粒三维形状检测仪及检测方法(CN200710022257.7)-中国专利【掌桥科研】
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多通道散射反演微颗粒三维形状检测仪及检测方法

摘要

本发明公开了一种利用多通道散射反演微颗粒三维形状的检测仪及检测方法,实验在球形散射腔中进行,散射腔的特征为在极角30°~150°,方位角为360°的空间内,每隔15°设置四个光纤插孔,组成9个相互平行的方位角圆面,也可以说是形成4对关于90°极角方向的方位角圆面对称的圆锥面;同时36个光纤插孔也形成了两个各含18个光纤插孔的相互垂直的圆面,圆面与进样粒子束的夹角均为45°。利用散射信号提取颗粒的每测量点半径大小,然后连线的办法得到颗粒的形状信息,颗粒的测量点半径大小由成熟的Mie散射理论反演得到:其中α=2πr/λ,r即为颗粒的光纤点对应半径。

著录项

  • 公开/公告号CN101055241B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-08-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200710022257.7

  • 发明设计人 邵士勇;姚永帮;朱文越;饶瑞中;

    申请日2007-05-10

  • 分类号G01N15/14(20060101);G01N21/51(20060101);

  • 代理机构34112 安徽合肥华信知识产权代理有限公司;

  • 代理人余成俊

  • 地址 230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-07-11

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 15/14 授权公告日:20100804 终止日期:20110510 申请日:20070510

    专利权的终止

  • 2010-08-04

    授权

    授权

  • 2007-12-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-10-17

    公开

    公开

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