首页> 中国专利> 光或辐射检测单元制造方法及通过该方法制造的检测单元

光或辐射检测单元制造方法及通过该方法制造的检测单元

摘要

通过气相沉积或印刷来形成包括载流子收集电极、电容器、薄膜晶体管、数据线和栅极线的读出图样的至少一部分。与半导体厚膜相分离地形成读出图样。半导体厚膜和读出图样构成平板X射线检测器(FPD),被安装在盒中以形成一个单元。通过使用半导体厚膜代替传统的玻璃衬底,实现了重量减轻。按照这种方式制造的FPD在运输和使用期间不受较大的限制。

著录项

  • 公开/公告号CN1924560B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-07-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社岛津制作所;

    申请/专利号CN200610126157.4

  • 发明设计人 足立晋;

    申请日2006-08-28

  • 分类号

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人宋焰琴

  • 地址 日本京都府

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-10-28

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/84 授权公告日:20100707 终止日期:20140828 申请日:20060828

    专利权的终止

  • 2010-07-07

    授权

    授权

  • 2007-05-02

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-03-07

    公开

    公开

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