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基于多特显点的干涉式逆合成孔径雷达成像方法

摘要

本发明公开一种基于多特显点的干涉式逆合成孔径雷达成像方法,首先从ISAR像中选取能量较强的像素点,即特显点;用干涉法对特显点比相测角,得到相位主值;对相位主值解缠绕,得到每个特显点对应的相位的真实值,根据真实相位值,对特显点定标;得出特显点对应的横向距离;根据特显点的多普勒频率和横向距离,拟合出多普勒频率和横向距离的关系;再根据此拟合关系对整幅ISAR逐个像素点进行定标,得到反映目标真实几何尺寸的InISAR像。本发明解决了相位缠绕问题,能得到不随姿态变化率的改变而变化的目标真实尺寸的像;成像的信噪比水平比传统逐点比相方法下降了15-20dB;在低信噪比时仍能清晰成像。同传统成像方法相比,减少了成像处理的运算量及复杂度。

著录项

  • 公开/公告号CN100573189C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-12-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN200610105287.X

  • 发明设计人 刘宏伟;李丽亚;

    申请日2006-12-27

  • 分类号G01S13/90(20060101);G01S7/02(20060101);

  • 代理机构61205 陕西电子工业专利中心;

  • 代理人张问芬

  • 地址 710071 陕西省西安市太白路2号

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-02-22

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01S 13/90 授权公告日:20091223 终止日期:20151227 申请日:20061227

    专利权的终止

  • 2009-12-23

    授权

    授权

  • 2007-09-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-07-18

    公开

    公开

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