一种版图拼版设计成效分析方法、芯片及终端

摘要

本发明公开了一种版图拼版设计成效分析方法、芯片及终端，属于芯片版图设计领域，包括：获取各型号芯片尺寸参数、各芯片切割需求参数；计算版图中可获取的各型号芯片数量；计算面积效用参数，结合切割刀数、总切割次数、贴膜数量、挑片总颗数、测试难易度中任一或多个参数对各版图进行评价，输出最优切割版图。引入面积效用参数对版图设计进行评价，优化了整晶圆芯片颗数与单个拼版方案之间的动态关系，以此提升面积产生的经济效益；根据面积效用参数结合其他参数各版图进行评价，将版图数据流片切割后才能体现出的芯片获得能力、切割成本、与需求匹配度等隐形成本提前显性化，在图形可变环节进行后端方案优化，使整个流片方案更为可控。