一种轻烧镁、镁石中MgO、SiO2含量的X射线荧光光谱分析法

摘要

本发明公开了一种轻烧镁、镁石中MgO、SiO2含量的X射线荧光光谱分析法，具体包括以下步骤：1.建立标准曲线以及制备标准试样；2.确定分析试样粒度；3.将分析试样置于烘箱中干燥；4.称取1g分析试样于马弗炉灼烧；5.将灼烧后分析试样转移至盛有混合熔剂的铂金坩埚中，搅拌均匀，在表面覆盖混合熔剂,滴加脱模剂；6.然后将分析试样放入Claisse M4型熔样炉中进行熔融；本发明节约了分析时间；样品的分析结果满足相关国家化学分析标准中的精密度要求。