首页> 中国专利> 薄膜单轴双向微拉伸装置及薄膜变形的测量方法

薄膜单轴双向微拉伸装置及薄膜变形的测量方法

摘要

一种薄膜单轴双向微拉伸装置及薄膜变形的测量方法,属于精密机械领域。该装置利用两个压电陶瓷8分别从两个方向推动可沿滑轨2移动的滑块4与可调滑块3,滑块4及可调滑块3与支架1之间通过限位弹簧9进行限位,滑块4及可调滑块3上固接有的力传感臂6,力传感臂6顶端接载物台,在测量时,首先将待测的薄膜试件夹在载物台上,然后对压电陶瓷8连续施加电压,使两个力传感臂6向相反方向发生微位移,同时通过图像实时采集系统和附在力传感臂6上的应变片5记录薄膜变形图像和力学参数。使用该装置和测量方法能够在测量过程中连续观察测量区,并可通过不同量程的力传感臂进行较宽范围的测量。

著录项

  • 公开/公告号CN100570324C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-12-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN200710120711.2

  • 发明设计人 李喜德;吴文旺;章玮宝;蔺书田;

    申请日2007-08-24

  • 分类号G01N3/28(20060101);G01N3/00(20060101);G01N19/00(20060101);G01N13/16(20060101);G01B11/16(20060101);

  • 代理机构11203 北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人沈波

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-12-16

    授权

    授权

  • 2008-03-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-23

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号