退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
公开/公告号CN100562859C
专利类型发明授权
公开/公告日2009-11-25
原文格式PDF
申请/专利权人 三星电子株式会社;
申请/专利号CN200710078892.7
发明设计人 郑明俊;崔贤真;郑勍任;
申请日2007-02-16
分类号G06F11/36(20060101);
代理机构11286 北京铭硕知识产权代理有限公司;
代理人郭鸿禧;谭昌驰
地址 韩国京畿道水原市灵通区梅滩3洞416
入库时间 2022-08-23 09:03:32
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2009-11-25
授权
2007-10-24
实质审查的生效
2007-08-29
公开
机译: 测试方法,算术处理单元,测试程序,测试程序生成方法,测试程序生成设备和测试程序生成程序
机译: 测试方法,处理单元,测试程序,生成测试程序的方法,测试程序生成设备以及测试程序生成程序
机译: 迁移测试程序创建设备,迁移测试程序创建方法和迁移测试程序创建程序
机译:使用IEEE 11073通信标准的集成医疗设备批准过程的扩展设备配置文件和测试程序
机译:无线技术在测试电源设备:加速和简化离线测试程序
机译:WER-1000 / V446核反应堆中便携式设备在最终散热片事故丢失期间的概率安全评估,用于压力测试程序的开发
机译:植物牛奶运行流程的规划方法,以优化组装系统中材料提供的
机译:自动测试程序生成和新颖的测试技术,用于测试射频和高压设备接口板
机译:SARS-COV-2 PCR和整个农村社区的抗体检测:高通量测试程序的方法和可行性
机译:在灵长类动物认知的方法«Naturalistes»和«Généralistes»之间的界面新的行为测试程序在灵长类动物认知的“自然主义”和“通才”方法之间的界面上的新的行为测试程序
机译:用于测试欧洲III-VEB夹层紧固件的测试程序提供了一种测试程序,用于在VEB锥体上安装设备的插件的工程测试。这些测试包括拉伸,剪切和扭矩测试。