首页> 中国专利> 一种基于光学时间拉伸的穆勒矩阵测量系统及方法

一种基于光学时间拉伸的穆勒矩阵测量系统及方法

摘要

本发明公开了一种基于光学时间拉伸的穆勒矩阵测量系统及方法,系统包括宽带脉冲光源、时间拉伸模块、光谱调制模块以及采样模块;所述时间拉伸模块包括滤波器、色散模块以及放大器;所述光谱调制模块包括偏振生成模块以及偏振分析模块;所述采样模块包括光电探测器以及实时采样模块;所述偏振生成模块包括起偏器以及多块波片,用于生成特定的偏振态;所述偏振分析模块包括检偏器以及多块波片,用于对经过样品后的光束偏振态进行解析。本发明将光学时间拉伸技术用于穆勒矩阵测量,测量速度可达到100MHz量级,单次穆勒矩阵测量时间提高到10ns量级,从而克服现有技术中穆勒矩阵测量实时性较差,测量速度较慢的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN112525828B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.11.29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 暨南大学;

    申请/专利号CN202011552217.5

  • 申请日2020.12.24

  • 分类号G01N21/21;G01N21/01;

  • 代理机构广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人李斌

  • 地址 510632 广东省广州市天河区黄埔大道西601号

  • 入库时间 2022-12-29 02:02:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-29

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号