公开/公告号CN112766154B
专利类型发明专利
公开/公告日2022.09.30
原文格式PDF
申请/专利权人 中国地质大学(武汉);
申请/专利号CN202110068195.3
申请日2021.01.19
分类号G06V20/10;G06V10/25;G06V10/30;G06V10/44;G06V10/50;G06V10/46;G06V10/26;G06V10/764;
代理机构武汉知产时代知识产权代理有限公司;
代理人张毅
地址 430000 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号
入库时间 2022-11-28 17:49:19
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-09-30
授权
发明专利权授予
机译: 宽高分辨率高分辨率SAR图像生成方法及宽分辨率高分辨率SAR图像生成系统
机译: 高分辨率SAR幅值的边界线精确提取方法,其中通过输入合成孔径雷达幅值图像来搜索周围像素的变化率来寻找边界点,从而提取边界线
机译: 掩膜,一种使用该掩膜制造的图像传感器,以及一种制造该图像传感器的方法,能够在掩膜图案的角上形成外衬