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用于选择性屏蔽测试响应的方法和系统

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一种用于测试集成电路(10)的设备，包括用于压缩被测试电路(14)的测试响应的压缩器(22)，该被测试电路(14)是集成电路(10)的一部分；和耦合在该被测试电路和压缩器(22)之间的屏蔽电路(18)，用于屏蔽来自该被测试电路(14)的一个或多个测试响应。该屏蔽电路(18)还包括用于接收压缩的屏蔽数据并且提供解压缩的屏蔽数据的解压缩电路。

著录项

公开/公告号CN100541219C

专利类型发明授权
公开/公告日2009-09-16

原文格式PDF
申请/专利权人 NXP股份有限公司;
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申请/专利号CN200480027818.7
发明设计人 H·P·E·弗兰肯;A·格洛瓦茨;F·哈普克;
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申请日2004-09-20
分类号
代理机构中科专利商标代理有限责任公司;
代理人王波波
地址荷兰艾恩德霍芬
入库时间 2022-08-23 09:03:12

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2011-11-23

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/3185 授权公告日:20090916 终止日期:20100920 申请日:20040920

专利权的终止
2011-11-23

未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/3185 授权公告日:20090916 终止日期:20100920 申请日:20040920

专利权的终止
2009-09-16

授权

授权
2009-09-16

授权

授权
2007-11-07

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移变更前: 变更后: 登记生效日:20071012 申请日:20040920

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移
2007-11-07

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移登记生效日:20071012 变更前: 变更后: 申请日:20040920

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移
2007-11-07

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移变更前: 变更后: 登记生效日:20071012 申请日:20040920

专利申请权、专利权的转移专利申请权的转移
2006-12-27

实质审查的生效

实质审查的生效
2006-12-27

实质审查的生效

实质审查的生效
2006-11-01

公开

公开
2006-11-01

公开

公开

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机译：用于选择性地掩盖测试响应的方法和系统
4. Method and system for selectively masking test responses [P] . 美国专利： US7376873B2 . 2008-05-20

机译：选择性地掩盖测试响应的方法和系统
5. METHOD AND SYSTEM FOR SELECTIVELY MASKING TEST RESPONSES [P] . 欧洲知识产权局专利： EP1671141B1 . 2007-10-03

机译：选择性地进行测试响应的方法和系统