用于测试闪速存储器的编程方法、装置及闪速存储器

摘要

本发明涉及闪速存储器技术领域，具体公开了一种用于测试闪速存储器的编程方法、装置及闪速存储器，其中，编程方法包括以下步骤：获取测试模式指令；根据所述测试模式指令生成奇偶位编程信息；根据所述奇偶位编程信息设定所述闪速存储器的页缓存电路的锁存数据，以使所述页缓存电路根据所述锁存数据对所述闪速存储器的存储器阵列进行编程；该编程方法生成奇偶位编程信息以设定闪速存储器的页缓存电路的锁存数据，使得闪速存储器的存储器阵列的存储数据能被快速编程为测试所需的数据类型，有效提高测试闪速存储器的测试效率，并能避免闪速存储器输入输出产生的串扰问题。