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表面增强发光系统、方法和表面增强发光分析物支持物

摘要

一种表面增强发光系统可以包括激光器和用于输出控制信号的控制器,所述控制信号使激光器辐照暴露于分析物之前的等离子体表面,同时维持暴露于分析物之前的等离子体表面的轮廓。

著录项

  • 公开/公告号CN110832304B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.08.30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 惠普发展公司;有限责任合伙企业;

    申请/专利号CN201780092815.9

  • 发明设计人 R·N·森古普塔;A·罗卡斯;

    申请日2017.07.17

  • 分类号G01N21/62(2006.01);

  • 代理机构北京市汉坤律师事务所 11602;北京市汉坤律师事务所 11602;

  • 代理人魏小薇;吴丽丽

  • 地址 美国德克萨斯州

  • 入库时间 2022-09-26 23:16:47

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