法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2014-05-28
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/31 授权公告日:20090826 终止日期:20130404 申请日:20060404
专利权的终止
2009-08-26
授权
授权
2007-11-28
实质审查的生效
实质审查的生效
2007-10-03
公开
公开
机译: 用于聚合物膜的识别方法包括用于测量薄膜厚度的白光干涉测量法,包括用于包含双极性薄膜的物体的识别方法,检测次数以及干涉测量法的使用。酷刑。
机译: 用于物体深度扫描的白光干涉仪在参考光路和/或测量光路中具有有源光学元件,从而能够相对于彼此改变光路长度
机译: 光学路径长度可变电池,使用它的吸光度测量方法以及使用它们的COD测量方法和设备