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电成型的金属结构及电成型金属集成电路结构的方法

摘要

提供一种用于电成型金属集成电路结构的方法。该方法包括:穿过层间绝缘体形成诸如通孔或线的开口,露出基片表面;形成覆盖层间绝缘体和基片表面的基层;形成覆盖基层的触击层;形成覆盖触击层的顶层;选择性地蚀刻以去除覆盖基片表面的顶层,露出触击层表面;以及,电成型覆盖触击层表面的金属结构。电成型的金属结构使用电镀或者无电沉积方法沉积。典型地,该金属是Cu、Au、Ir、Ru、Rh、Pd、Os、Pt或者Ag。基层、触击层和顶层可使用物理气相淀积(PVD)、蒸发法、反应溅射或者金属有机化学气相淀积(MOCVD)方法沉积。

著录项

  • 公开/公告号CN100551205C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-10-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 夏普株式会社;

    申请/专利号CN200510109804.6

  • 发明设计人 D·R·埃文斯;J·W·哈特泽尔;

    申请日2005-06-17

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人张雪梅

  • 地址 日本大阪市

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-08-12

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H05K 3/00 授权公告日:20091014 终止日期:20140617 申请日:20050617

    专利权的终止

  • 2009-10-14

    授权

    授权

  • 2006-06-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-04-26

    公开

    公开

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