一种存储器内建自测试电路和对存储器的测试方法

摘要

本申请实施例公开了一种存储器内建自测试电路和对存储器的测试方法，用于降低修改MBIST电路支持的测试算法的开发成本。本申请存储器内建自测试MBIST电路可以包括：算法生成模块，用于按照目标测试指令根据背景数据、预存的测试元素模块和目标测试算法的各个测试元素的构造规则，依次构造各个测试元素；算法执行模块，用于对待测的存储器依次执行各个测试元素。