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一种双偏置参数圆轮廓测量模型的偏置误差分离方法

摘要

双偏置参数圆轮廓测量模型与偏置误差分离方法属于表面形状测量技术领域;该模型中同时包含被测试件偏心误差(e,α)和传感器测头偏移误差d两个偏置误差分量,其测量模型为ρi=e cos(θi-α)+((ro+Δri)2-(d+e sin(θi-α))2)1/2,采用参数优化的方法实现对偏置误差参量和模型中其它参量的精确估计与直接求解,进而在测量数据中逐一分离出偏置分量,获得被测试件真实的圆轮廓;本发明提出的测量模型能够完整精确地反映各偏置误差分量对圆轮廓测量的影响,克服了目前普遍使用的测量模型存在的原理缺陷及参数估计精度低的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN100523722C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-08-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN200810136908.X

  • 发明设计人 谭久彬;黄景志;

    申请日2008-08-13

  • 分类号G01B21/20(20060101);G01B21/24(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-10-15

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 21/20 授权公告日:20090805 终止日期:20130813 申请日:20080813

    专利权的终止

  • 2009-08-05

    授权

    授权

  • 2009-02-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-01-07

    公开

    公开

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