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一种高层次PCB板间对位方法

摘要

本发明型提供一种高层次PCB板间对位方法,包括以下步骤:对待对位的芯板进行风险层评估,若芯板的AR值小于3mil或芯板的D2M值小于5mil或残铜率小于50%或Core厚小于4mil,则该芯板筛选为风险层,其余芯板为非风险层;将所述风险层与至少一层非风险层进行热熔,形成多个叠板;对所述叠板钻孔,将钻好孔的叠板安装销钉;将安装好销钉的叠板进行叠合。本发明创造性的点在于选取芯板的AR&D2M信息、残铜率以及Core厚来评估芯板是否为风险层,本发明另一创造性的点在于,将风险层与非风险层进行热熔,可以降低层压过程中涨缩对风险层的影响,从而提高良率;在某些情况下,将非风险层与相邻的非风险层进行热熔,可以降低对位时破损的风险。

著录项

  • 公开/公告号CN114554699B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-07-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 圆周率半导体(南通)有限公司;

    申请/专利号CN202210433567.2

  • 申请日2022-04-24

  • 分类号H05K3/00;H05K3/46;

  • 代理机构南通苏专博欣知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人施荣华

  • 地址 226000 江苏省南通市通州区高新区康富路898号

  • 入库时间 2022-08-23 13:57:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-27

    公开

    发明专利申请公布

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