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检测光学系统任意波长透射波前的方法

摘要

本发明提供了一种检测光学系统任意波长透射波前的方法,利用4种波长为λ1~λ4的检测装置分别对光学系统进行检测,再通过波前离散点Hλm(xi,yi)与波长公式计算得到光学系统在波长为λn时的透射波前。本方法均能够应用在单波长系统、消色差系统以及复消色差系统中,从而解决主要的透射式光学系统任意波长波前检测的问题。不仅使得特殊波长的激光干涉仪的检测范围变大,而且当需要检测一些特殊的光学系统时,也不需要使用造价昂贵的特殊波长的激光干涉仪进行检测,节约了检测成本。

著录项

  • 公开/公告号CN111999042B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 苏州维纳仪器有限责任公司;

    申请/专利号CN202010928541.6

  • 申请日2019-06-28

  • 分类号G01M11/02;

  • 代理机构上海德昭知识产权代理有限公司;

  • 代理人郁旦蓉

  • 地址 215123 江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路150第二教学楼B109室

  • 入库时间 2022-08-23 13:56:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-28

    授权

    发明专利权授予

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