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一种相位抖动采样方法

摘要

本发明公开了一种相位抖动采样方法,该方法基于可编程逻辑内部时钟周期,设计定时触发模块,产生预定时间间隔的触发脉冲信号,将触发信号送入的相位调整模块,相位调整模块以定时触发模块输出信号为输入,设置采样调整周期,每个调整周期中第一个采样周期调整一次相位,其余采样周期保持不变,每次增加一个时钟周期的相位偏移,当增加的相位总延迟达到设定的时钟周期时,则开始产生减少一个时钟周期的相位偏移,直到相位偏移为零,之后再重复此过程实现相位抖动采样。本发明通过对采样周期以及相位的设定调整,实现抖动相位的采样点在固定时刻采样点之间依次滑动,避免异常信号在两个采样点之间导致的信号丢失信息的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN114499514B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 艾德克斯电子(南京)有限公司;

    申请/专利号CN202210404866.3

  • 发明设计人 不公告发明人;

    申请日2022-04-18

  • 分类号H03M1/06;H03M1/12;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 210000 江苏省南京市雨花台区西善桥南路108号1栋

  • 入库时间 2022-08-23 13:49:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):H03M 1/06 专利申请号:2022104048663 申请日:20220418

    实质审查的生效

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