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一种超低温杜瓦系统的磁光和拉曼联合测量系统

摘要

本发明涉及现代分析测量技术领域,特别提供提供了一种超低温杜瓦系统的磁光和拉曼联合测量系统,包括:激光器、机械斩波器、输入光路、第一非偏振分束镜、第二非偏振分束镜、照明光路、第三非偏振分束镜、倾斜杜瓦观察窗、反馈光路、CCD电子目镜、第四非偏振分束镜、1/2波片、沃拉斯顿棱镜、平衡光电二极管、反光镜和光纤耦合器、锁相放大器、拉曼谱仪与主控电脑;通过各原件及支路的合理设置,克服了光照强度,远距离成像等难点,可实现成像的同时进行磁光和拉曼测量,对超低温下研究二维材料物理性质提供了前沿的测量平台。

著录项

  • 公开/公告号CN113588620B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-06-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院金属研究所;

    申请/专利号CN202110704247.1

  • 发明设计人 赵晓天;刘伟;张志东;

    申请日2021-06-24

  • 分类号G01N21/65;G01N21/21;G01N21/01;

  • 代理机构沈阳晨创科技专利代理有限责任公司;

  • 代理人张晨

  • 地址 110015 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号

  • 入库时间 2022-08-23 13:45:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-06-03

    授权

    发明专利权授予

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