用激光干涉法测量数控机床圆轨迹的方法

摘要

本发明为用激光干涉法测量数控机床圆轨迹的方法，为数控机床的精度检测方法，解决已有检测方法精度不高，所用工具适用范围不广，操作不便的问题。位于数控机床工作台上的直角坐标机构将数控机床工作台与主轴的相对圆运动分解为X、Y两个方向的分量，用激光干涉仪测量出这两个分量值或它们的差值，根据测量值计算出圆运动的实际轨迹。