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基于SIW-CSRR的用于测量介电常数的微波传感器

摘要

本发明公开基于SIW‑CSRR的用于测量介电常数的微波传感器。本发明包括介质层、顶层金属层、底层金属层;顶层金属层刻槽有两个金属CSRR结构;上述两个金属CSRR结构由大小不同的两个开口环谐振器构成,其中开口环谐振器为开口槽环;较小开口环谐振器内嵌在较大开口环谐振器内;两个开口环谐振器的开口方向相反;较大开口环谐振器开口处至较小开口环谐振器的空间位置为电场强度最大、磁场强度最小的区域,该区域放置待测样品。本发明产品抗干扰能力更强,结构更简单,低成本,便于携带且该传感器的灵敏度和质量因子表现的很好,同时该新型微波谐振器的Q值达到786.5,很适用于精确测量磁介质材料的介电常数。

著录项

  • 公开/公告号CN110531164B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN201910766950.8

  • 发明设计人 徐魁文;姜浩;段江波;刘洋;

    申请日2019-08-20

  • 分类号G01R27/26;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街

  • 入库时间 2022-08-23 13:38:52

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