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一种基于质量图加权的多基线最小二乘相位解缠方法

摘要

本发明公开了一种基于质量图加权的多基线最小二乘相位解缠方法,该方法首先计算多基线InSAR缠绕相位的一阶相位梯度主值,并将其镜像对称延拓,计算二阶相位梯度,然后利用质量图判断缠绕相位质量,将其作为先验信息对缠绕相位中的残差点进行相位补偿,并基于质量图对缠绕相位的二阶相位梯度进行优化加权,最后进行多基线最小二乘相位解缠,得到解缠相位,该方法通过多基线测量丰富目标场景的干涉相位信息,避免了传统单基线最小二乘相位解缠算法中的残差点相位误差传递问题,提高了相位解缠精度。

著录项

  • 公开/公告号CN110109100B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201910271422.5

  • 申请日2019-04-04

  • 分类号G01S13/90;G01S7/41;

  • 代理机构电子科技大学专利中心;

  • 代理人曾磊

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 13:35:33

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