一种基于多层二维纳米材料干涉图像的微力测量方法

摘要

本发明公开了一种基于多层二维纳米材料干涉图像的微力测量方法，步骤如下：制备边长为微米级别的多层二维纳米材料；将上述制备好的多层二维纳米材料转移至表面平整的硅衬底上；采用可见光垂直照射上述多层二维纳米材料，并使用光学显微镜进行观察，在多层二维纳米材料上施加外力后，记录形成的干涉图样；测量上述干涉图样的明暗条纹数量，根据干涉条纹产生的条件，计算得到施加外力处多层二维纳米材料的层间距变化，并根据已知的多层二维纳米材料层间范德华相互作用系数，计算得到施加外力大小。本发明方法利用多层二维纳米材料实现高精度力的测量，可以有效降低成本和测量难度，测量条件相对简单。