一种形态检测方法、形态检测装置及电子设备

摘要

本申请提供了一种形态检测方法，应用于一电子设备，所述电子设备包括通过转轴相对转动连接的第一本体和第二本体，所述方法包括：获得由所述第一本体侧发出的测量信号；基于所述测量信号，获得第一参数和第二参数，其中，所述第一参数和所述第二参数通过设在所述第二本体不同位置上的接收部件获得；基于所述第一参数、所述第二参数和预设参数，确定所述第一本体和所述第二本体的形态信息，使得电子设备对于其第一本体和第二本体的形态信息的检测的算法变得更加简单，同时，能够减少在检测形态信息时所需的时间，在保证检测准确度的情况下提高检测效率，进一步提高了用户的使用体验。