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光刻胶组合物、层压材料、图案形成方法和制造半导体器件的方法

摘要

本发明提供一种光刻胶组合物,其包括(A)聚羟基苯乙烯,其中至少一部分羟基氢原子被可酸离解的溶解抑制基团取代,并且当可酸离解的溶解抑制基团被酸的作用消除时,聚羟基苯乙烯在碱性溶液中的溶解度增大,和(B)通过使用放射线照射能够产生酸的组分,其中在使用盐酸的离解试验后,组分(A)的可酸离解的溶解抑制基团的保留率为40%或更小,还提供一种含有聚羟基苯乙烯的化学放大型阳性光刻胶组合物,所述代替组分(A)的聚羟基苯乙烯中至少一部分羟基氢原子被含有直链或支链烷氧基的低级烷氧基-烷基取代,并且当所述低级烷氧基-烷基被酸的作用消除时,聚羟基苯乙烯在碱性溶液中的溶解度增大。

著录项

  • 公开/公告号CN100507716C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-07-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东京应化工业株式会社;

    申请/专利号CN200510106370.4

  • 申请日2002-06-28

  • 分类号G03F7/039(20060101);G03F7/016(20060101);G03F7/029(20060101);G03F7/00(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人王旭

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-09-07

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G03F 7/039 授权公告日:20090701 终止日期:20100628 申请日:20020628

    专利权的终止

  • 2009-07-01

    授权

    授权

  • 2006-04-26

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-03-01

    公开

    公开

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