首页> 中国专利> 标准温度法和相对谱线法同步诊断等离子体温度场的方法

标准温度法和相对谱线法同步诊断等离子体温度场的方法

摘要

本发明公开了一种标准温度法和相对谱线法同步诊断等离子体温度场的方法,将待测电弧等离子体温度场分为电弧弧柱区域温度和电弧边缘区域温度两部分,对于电弧弧柱区域温度,找到电弧等离子体放电图像的灰度值G与等离子体发射系数εv之间的关系,利用标准温度法来进行计算;对于电弧边缘区域温度,找到灰度值G与辐射强度I之间的关系,利用相对谱线法,进而求得电弧边缘区域温度分布。本发明通过标准温度法和相对谱线法2套温度诊断方法同步诊断电弧温度,互相验证电弧弧柱区域和电弧边缘区域温度的准确性,增加整个电弧温度场诊断的准确性,诊断温度范围更大。

著录项

  • 公开/公告号CN112729555B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院合肥物质科学研究院;

    申请/专利号CN202011508059.3

  • 申请日2020-12-18

  • 分类号G01J5/00(20220101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人张乾桢

  • 地址 230031 安徽省合肥市庐阳区蜀山湖路350号

  • 入库时间 2022-08-23 13:19:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-03-25

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号