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光子计数X射线辐射探测系统中的光子计数的校正

摘要

本发明涉及一种光子计数X射线辐射探测系统。所述系统(31)包括X射线辐射设备(2),所述X射线辐射设备用于在扫描的探测时段期间提供用于穿过检查区(5)的多色X射线辐射(4)。包括探测元件(3)的光子计数探测设备(6)探测己经穿过所述检查区之后的所述X射线辐射,并且在所述探测时段期间测量针对每个探测元件的在一个或多个能量分箱中的光子计数。校正单元(12)估计针对每个探测元件的存在于所述探测元件中的积聚的电荷的量并且基于所述积聚的电荷的所估计的量来校正针对所述探测元件的测得的光子计数。这允许补偿由积聚的电荷引起的光子计数率的损坏并改进光子计数的确定。

著录项

  • 公开/公告号CN108027447B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 皇家飞利浦有限公司;

    申请/专利号CN201680053904.8

  • 发明设计人 H·德尔;A·特伦;

    申请日2016-09-09

  • 分类号G01T1/24(20060101);

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人王英;刘炳胜

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2022-08-23 13:15:24

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