基于光子计数测量的X射线荧光效率标定系统

摘要

荧光效率是X射线滤波荧光法测量实验中的重要参数.本文介绍了一套自行研制的X射线荧光效率标定系统,该系统引入X光机二次激发的特征X射线作为单色光源,设计了专用的标定靶室,采用具有高能量分辨的高纯锗探测器和多道仪作为光子计数的记录系统.最后,利用该系统给出了Cu片对两种不同能量X射线的荧光效率,并与理论值进行了比较.