干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统

摘要

本发明提供一种干扰条件下智能可穿戴设备的OTA性能测试系统，包括：全电波暗室、综测仪、矢量信号发生器、功率放大器、频谱分析仪、数控开关矩阵、测量天线、校准天线、转台、转台控制器和控制电脑，综测仪通过测量天线与待测智能可穿戴设备建立Wi‑Fi连接和/或蓝牙连接，通过校准天线对干扰信号进行校准，通过综测仪产生测试信号，通过矢量信号发生器产生干扰信号，在测试信号和干扰信号下，综测仪根据测试结果和校准结果确定真实电磁环境下的智能可穿戴设备的Wi‑Fi/蓝牙空间性能。该方案可以真实地模拟智能可穿戴设备的实际使用环境，衡量其在复杂电磁环境下的性能降级的影响。