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公开/公告号CN107543830B
专利类型发明专利
公开/公告日2022-02-22
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
申请/专利号CN201610463460.7
发明设计人 武东城;高松涛;苏东奇;彭石军;苗二龙;隋永新;杨怀江;
申请日2016-06-23
分类号G01N21/958(20060101);G01N21/95(20060101);
代理机构44316 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人郝明琴
地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
入库时间 2022-08-23 13:09:37
机译: 球面光学元件的表面缺陷检测装置和方法
机译: 具有非球面表面的光学元件-具有非球面弯曲的薄平面平行板,该板载有高分子物质连接板至透镜
机译: 像差检测装置,像差检测方法以及用于控制球面像差的光学拾取装置
机译:光学元件表面污染的检测方法
机译:最佳拟合球面曲率半径和光学非球面表面分量的离轴非球面非球面度的解决方案
机译:光学系统中光学元件的非球面化技术经济方面
机译:磨轮磨损规则及其对非球面光学元件磨削过程中表面形态的影响
机译:一,二和三元件透镜中的非球面和衍射表面。
机译:用于改善非球面光学元件表面质量的伪随机路径生成算法和策略
机译:高斯激光束边缘位置的光学检测方法。理论分析与基本检测装置。
机译:一种制备光学元件非球面的方法