一种通过质量-电阻法测量WIC镶嵌超导线铜超比方法

摘要

本发明涉及WIC镶嵌超导线材铜超比测量技术领域，尤其为WIC镶嵌超导线提供一种质量与电阻相结合的铜超比测量方法；将镀锡前镶嵌圆线与镶嵌铜槽线进行剥离；采用电阻法测量镶嵌圆线的铜超比β，通过计算得出镶嵌圆线铜的体积，镶嵌圆线Nb阻隔层与NbTi芯丝的体积；称重镶嵌铜槽质量并通过计算获得镶嵌铜槽线体积；称重WIC镀锡成品线质量，镶嵌铜槽与镶嵌圆线质量之和，两者相减获得镶嵌焊料锡的质量并通过计算获得焊料锡的体积。大量测量比对实验表明：本发明的方法与化学腐蚀法测量比对误差在2％以内，满足使用需求。本发明的方法与化学腐蚀法相比，效率提升65％以上，且避免了化学腐蚀法使用HNO3对环境造成的污染。